用线阵CCD测量固体材料的杨氏模量
DOI:
作者:
作者单位:

作者简介:

通讯作者:

中图分类号:

基金项目:


Measuring Young's Modulus of Solid Material with Line Scan CCD
Author:
Affiliation:

Fund Project:

  • 摘要
  • |
  • 图/表
  • |
  • 访问统计
  • |
  • 参考文献
  • |
  • 相似文献
  • |
  • 引证文献
  • |
  • 资源附件
  • |
  • 文章评论
    摘要:

    介绍了一种用线阵CCD测量固体材料杨氏模量的方法,使学生了解和掌握一种微小位移的非电量电测方法,扩大了学生的知识面,有利于学生综合素质的培养。

    Abstract:

    Introduces a new method of measuring Young's modulus of solid material with line scan CCD. Makes students understand and master a non-electric measurement way to measure min-displacement, which not only expands students' knowledge but also has advantages in cultivating students' overall qualities.

    参考文献
    相似文献
    引证文献
引用本文

虢淑芳,夏湘芳,彭柯铭,王国友,陈光伟.用线阵CCD测量固体材料的杨氏模量[J].湖南工业大学学报,2009,23(4):65-67.

复制
分享
文章指标
  • 点击次数:
  • 下载次数:
  • HTML阅读次数:
  • 引用次数:
历史
  • 收稿日期:2009-04-20
  • 最后修改日期:
  • 录用日期:
  • 在线发布日期: 2015-09-02
  • 出版日期:
文章二维码